碳化钨粉末中晶粒抑制剂固溶量XRD对标评价方法

编号：CYYJ043192

篇名：碳化钨粉末中晶粒抑制剂固溶量XRD对标评价方法

作者：江嘉鹭

关键词： 抑制剂 固溶 X射线衍射 碳化钨

机构： 国家钨材料工程技术研究中心厦门钨业股份有限公司技术中心 厦门市硬质合金重点实验室

摘要： 在细颗粒氧化钨或钨粉中添加晶粒抑制剂制取含抑制剂的碳化钨粉末是制备超细硬质合金的一种方法。通常认为WC粉末中抑制剂或固溶于WC或独立存在,但由于添加量过少,难以通过检测手段判定其存在形式及固溶量。本文尝试采用对标评价的方式建立量化指标以判断粉末中晶粒抑制剂的固溶程度,评价了添加不同质量Cr及Cr、V混合晶粒抑制剂制备的细颗粒及超细颗粒WC粉末。测试结果表明,难以判定抑制剂固溶量是因为忽略了生产中出现的缺碳相及相应的固溶产物相。评价方法以W2C、(W,Cr,V)2C及WC为对标对象,判断固溶量;以衍射峰峰位及半高宽为对标指标,弱化其他干扰晶格常数变化因素的影响,如谱峰较少导致的晶型不确定、工艺参数或抑制剂添加导致的结晶程度变化。相同碳化工艺、抑制剂添加量1%的范围内,粉末的(W,Cr,V)2C及WC的峰位均随Cr抑制剂添加量的增加而增大,(W,Cr,V)2C峰面积也有逐渐增大的变化趋势。用试样粉末制备硬质合金并测量WC晶粒度,部分结果显示其趋势与量化指标相同。